IHSN Survey Catalog
  • Home
  • Microdata Catalog
  • Citations
  • Login
    Login
    Home / Central Data Catalog / POL_2016_ITPIE_V01_M / variable [F5]
central

In-Tech Program Impact Evaluation 2016

Poland, 2016
Get Microdata
Reference ID
POL_2016_ITPIE_v01_M
Producer(s)
David McKenzie
Metadata
DDI/XML JSON
Created on
Jun 26, 2017
Last modified
Jun 26, 2017
Page views
10373
Downloads
1761
  • Study Description
  • Data Dictionary
  • Downloads
  • Get Microdata
  • Data files
  • applications_public
  • citationdata
  • eu_patents
  • innotechadmin_public
  • surveydata_public

Other office where applied for Innotech project patent (C2_994)

Data file: surveydata_public

Overview

Valid: 27
Invalid: 0
Type: Discrete
Start: 2110
End: 2187
Width: 78
Format:

Questions and instructions

Literal question
Where did you apply for this patent? Innotech project
Other
Categories
Value Category
-
Amerykański Urząd Patentowy
Amerykański i JApoński Urząd patentowy
Chiny
Dzialania patentowe się rozpocęły ale cały wniosek nie jest jeszcze gotowy
USA
USA,KOREA,JAPONIA
UrzÄ…d Patentowy USA
W USA
Wniosek patentowy składał lider konsorcjum.
amerykanski urad patentowy
amerykański
amerykański urząd patentowy
brak
chiński urząd patentowy
chyba USA
niemiecki urzÄ…d patentowy
provissinal-biuro patentowe WB Patents
urzad harmonizacji rynku wewnetrznego
usa
ww
Warning: these figures indicate the number of cases found in the data file. They cannot be interpreted as summary statistics of the population of interest.
Back to Catalog
IHSN Survey Catalog

© IHSN Survey Catalog, All Rights Reserved.